Chroma Model 7925 TO-CAN 封装外观检测系统
2016-03-18
Chroma 7925为自动化TO-CAN封装外观检测系 统，Chroma Model 7925 TO-CAN 封装外观检测系统可提供封装前后的透镜与金属外盖缺陷进行 检测。透过高解析度之镜头以及多样的光源配 置，可检出30um以上的透镜刮伤及异物。由于 载盘可能存在制造公差导致待测物对焦距离均不 相同，Chroma Model 7925 TO-CAN 封装外观检测系统配置了自动对焦系统，可自 动计算待测物之对焦距离并进行补偿，以确?？?以取得清楚的检测影像。
使用者可以自由设定良品与不良品之规则及缺陷 编码，并依据编码进行挑拣。从上片、检测、挑 拣及下片均为全自动化流程，大幅降低人员操作 及制程管理发生错误的机会。检测完成后，工程 师可以取得详细的缺陷量化数据，以及储存缺陷 影像以利于再判读。相较于人工目检无法保留检 测资料，使用Chroma 7925所取得之资料，将有 助于分析制程问题，并进一步提升产品良率。长沙艾克赛普仪器设备有限公司作为台湾Chroma公司湖南区域的总代理，以下为长沙艾克赛普仪器设备有限公司为您简单介绍Chroma Model 7925 TO-CAN 封装外观检测系统的技术参数及产品特点，如果您想对Chroma Model 7925 TO-CAN 封装外观检测系统有更多的了解，欢迎致电长沙艾克赛普仪器设备有限公司，联系电话：0731-84284278 84284378。更多产品信息欢迎点击：www.cafa100.cn。长沙艾克赛普仪器设备有限公司。
Chroma Model 7925 TO-CAN 封装外观检测系统主要特色：
可检测TO-CAN 封装金属外盖与透镜之刮伤、破裂、异物及胶合不良等缺陷
具备自动对焦功能，可克服载盘制造公差内的高度差异
检测完成后可依设定规格挑拣不良品
提供比人工目检更佳的可靠度及重复性
每小时最高可检测3600颗待测物
自动化上下料盘，减少人员上下料时间
提供完整的检测资料，包含检测数据及缺陷影像以供工程分析
最新资讯
